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電子産業において、EMI/EMCによる段階での障害は全体の約30％を占め、数十億ドルの収益損失をもたらしています。 一般的に、EMI/EMC特性の検証には、試作品を準備し、標準的な実験室で測定を行うことが一般的ですが、規格を満足できない場合、問題点を特定したうえで設計を変更して、試作を繰り返す必要があります。その結果、市場投入までの時間が遅れ、プロジェクトがキャンセルされたり、機会が失われたりすることがあります。 試作の繰返しによる時間と機会の損失を防ぐためには、シミュレーションにより測定データとの相関関係を正確に予測することが重要となってきます。 このプレゼンテーションでは、EMI/EMCのモデルベースのシステムレベルのシミュレーションアプローチによる、自動車用電子機器ハードウェア設計のフロントローディング手法を説明します。 お申し込みの後、ご案内をお送りするまで少々お時間をいただく場合があります。ご了承ください。