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リガク Webinarシリーズ :薄膜評価セミナー
リガクWebinarを以下の内容で実施致します。ぜひご参加ください。

タイトル:
 『X線トポグラフィによる単結晶基板材料の評価』

概要:
化合物半導体などで用いられている単結晶基板の評価方法としてX線トポグラフィを中心にご紹介します。

スピーカー:
 小林 信太郎(株式会社リガク X線機器事業部 応用技術センター)

日時:
 2021年 2月19日(金)
  15:00~ 講演(30分)
  15:30~ 質疑応答(15分)

Feb 19, 2021 03:00 PM in Osaka, Sapporo, Tokyo

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